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QM9501
本设备主要用于对eMMC,EPOP,DRAM等产品常温环境下的Burn-in自动测试分选。
设备特点:
1.IC自动上料,Tray自动分配,IC自动分BIN;
2.集不同IC、Tray、BIB板的测试解决方案于一体;
3.CCD视觉检测,确保产品位置准确;
4.设备配备机械手臂,可同时满足open top和旋钮式老化板。
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