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QM9701

本设备主要用于对Micro SD ,UDP,EUDM,EMMC,EPOP,EMCP,DRAM等存储类芯片在常温和高温环境下的自动化测试。

设备特点:

1.IC自动上料,Tray自动分配,IC自动分BIN;
2.集不同IC、Tray的测试解决方案于一体;
3.适用于测试时间较长的IC;
4.测试可与公司内网连接,可实现智能制造。

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